SC-E大米外觀品質檢測儀用于各種類大米（精米、糙米、糯米等）各項外觀品質指標的自動檢測，可進行多參數、批量化的自動分析。
SC-E大米外觀品質檢測儀組成：雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦（電腦另配）。
技術參數：
硬件規格 |
光學分辨率 | 4800×9600 dpi |
根系透掃幅面積 | 30 cm×20 cm |
小像素尺寸 | 0.0053mm ×0.0026 mm |
軟件功能 |
分析測量 | 可自動一次性測量分析30g以上大米樣品的：堊白度/率、碎米率及小碎米率、整精米數量、整精米率、大米透明度、黃粒米、雜質量、異品種粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的碾米精度、裂紋率，以及糙米胚芽率。 自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑（長度測量誤差≤±0.05mm，長寬比測量誤差≤±0.05，重現性誤差≤±0.02；整精米率、碎米率指標測量誤差≤±1.0%、重現性誤差≤±0.25%）。 可大批量自動分析處理與輸出結果。與國標GB/T1350稻谷、GB/T17891優質稻谷或GB1354大米、農業部新標準【大米】NY/T2334-2013等標準相對應，檢測各項指標的重量比和粒數比。 各分析圖像、分布圖、結果數據可保存，分析結果輸出至Excel表，可輸出分析標記圖。 具有自動學習與識別特性，可自動分割粘連的大米、種粒，可做自動分類分析。 具有樣本條碼、電子天平RS232數據軟件接口。可兼測的種粒直徑范圍0.3-20mm（厚15 mm），自動測量精度≥99%，交互修正后準確率達100%。
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產地：中國
